PREPARACIÓN Y MONTAJE DE MUESTRAS PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

 



 PREPARACIÓN Y MONTAJE DE MUESTRAS PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA


Una correcta preparación de muestra en microscopía electrónica de barrido nos proporciona las condiciones propicias para observar la muestra, obtener imágenes muy nítidas y claras, además de poder realizar un análisis confiable. Se abordará la revisión de casos de cómo preparar muestras según su naturaleza, se realizará una presentación en equipo de los análisis de caso y un reporte de un artículo científico sobre la preparación de análisis.

En la siguiente ilustración 6 y 7 se muestra una manera general de cómo procesar a las muestras conductoras y las que no lo son.



Se debe considerar en una muestra la cantidad de agua por lo tanto debe de ser un referente la ilustración 7.



 A continuación unos vídeos de que considerar al preparar una muestra para el MEB.





PREPARACIÓN Y MONTAJE DE MUESTRAS PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA







  Muestras biológicas


Las muestras biológicas generalmente tienen un alto contenido de agua. Si la muestra se coloca en el vacío SEM sin una preparación especial, puede dañarse significativamente a medida que el vacío extrae agua de la muestra. Esto también puede conducir a la contaminación de la cámara MEB. Para la mayoría de las muestras, el simple secado al aire no es un método apropiado debido a los cambios en la muestra que pueden producirse durante el secado (piense en la diferencia entre una uva y una sultana). Los pasos involucrados en el secado de una muestra biológica generalmente incluyen fijación, deshidratación y secado. Una vez que la muestra está completamente seca, puede montarse en un talón MEB y luego recubrirse con una capa delgada de un material conductor (por ejemplo, oro).

 

  Muestras de polímeros


Las muestras de polímero pueden estar húmedas o secas. Si están mojados (o tienen un contenido significativo de agua o líquido), deben secarse antes de poder examinarlos en el MEB. Los materiales poliméricos generalmente no necesitan someterse a fijación. Sin embargo, cualquier líquido dentro de ellos debe ser eliminado. Una vez que la muestra está completamente seca, puede montarse en un talón MEB y luego recubrirse con una capa delgada de un material conductor (por ejemplo, oro).

 

  Muestras no biológicas.


Las muestras no biológicas (por ejemplo, metales) suelen estar inherentemente secas. Sin embargo, puede haber líquido dentro de la muestra y muchas muestras requieren al menos algo de secado. Si la muestra es inherentemente conductora, no requerirá recubrimiento.

 

  Montaje de la muestra


Las muestras de MEB se adjuntan a un soporte llamado stub. Este proceso es una parte muy importante de la preparación de la muestra. Debido a que MEB es una técnica de imágenes de superficie, la parte de la muestra que es de interés debe estar en la parte superior del talón. Debe haber una conexión eléctrica continua entre el talón y la muestra para que la carga no se acumule. Esta conexión se puede lograr utilizando cintas conductoras o pegamentos en combinación con un revestimiento conductor.



REFERENCIAS 

·       Egas D. (1998). Microscopía Electrónica: Fudnamentos, Teoría y Aplicaciones. Tesis previa a la obtención del Título de Ingeniero en Electrónica y Telecomunicaciones.  Recuperado de: https://bibdigital.epn.edu.ec/bitstream/15000/10421/3/T1421.pdf

·   J-Goldstein et all. (1992), Scanning Electron Microscopy and x-ray microanalysis, Plenum Press, New York.

Manrique Zepeda, J. (2010). Tipos de Microscopios Electrónicos. Departamento de Física de la UNAM. Recuperado de : https://www.youtube.com/watch?v=9-qps2KU7WM

·    Ribadeneira Egas, D. (1998). Microscopía Electrónica: Fundamentos, teoría y aplicaciones, Escuela Politécnica Nacional, Facultad de Ingeniería Eléctrica, Quito. Recuperado de: http://bibdigital.epn.edu.ec/bitstream/15000/10421/3/T1421.pdf

·  Sorrivas de Lozano, V., Morales, A., & Yañez, M. J. (2014). Principios y práctica de la Microscopía Electrónica. CONICET, UAT, Bahía Blanca. Recuperado de: http://www.bahiablanca-conicet.gob.ar/biblioteca/principios-practica-microscopia-electronica.pdf

Zanella, Rodolfo, (Julio 2020), La dimensión nana en la microscopía electrónica, Vol. 13, Núm. 25, Universidad Nacional Autónoma de México, Ciudad de México, México, recuperado de http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/issue/view/5220/214.


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